Αντίσταση:
Α. Μέθοδος δοκιμής: Χρησιμοποιήστε ένα μετρητή υψηλής αντίστασης για να ελέγξετε την τιμή αντίστασης της μονάδας LCD που πρόκειται να δοκιμαστεί.
B. Πρότυπο κρίσης: Το αποτέλεσμα της δοκιμής εμπίπτει στο πεδίο των απαιτήσεων του προϊόντος (το εργοστασιακό πρότυπο ≥ 8X107).
Φωτοηλεκτρική απόδοση:
Α. Μέθοδος δοκιμής: προσπαθήστε να ποτίσετε το προϊόν και να δοκιμάσετε τη φωτοηλεκτρική του απόδοση.
B. Κριτήρια κρίσης: Οι τιμές Von και Voff του δείγματος δοκιμής είναι συνεπείς με τις παραμέτρους του προμηθευτή' και η γωνία θέασης, η αντίθεση και το χρώμα φόντου πληρούν τις απαιτήσεις του προϊόντος παραγωγής.
Καθαρά σημεία:
Α. Μέθοδος δοκιμής: Θερμάνετε τον υγρό κρύσταλλο προς δοκιμή και μετρήστε τη θερμοκρασία όταν φτάσει στο σημείο καθαρισμού. B. Κριτήρια κρίσης: Η θερμοκρασία του αποτελέσματος της μέτρησης είναι σύμφωνη με τη θερμοκρασία του σημείου εκκαθάρισης που παρέχεται από τον προμηθευτή.
Αντοχή στην υπεριώδη ακτινοβολία:
Α. Μέθοδος δοκιμής: Τοποθετήστε τον υγρό κρύσταλλο που πρόκειται να δοκιμαστεί ως προϊόν, τοποθετήστε τον επίπεδο κάτω από τη μηχανή σφράγισης UV και ακτινοβολήστε τον δύο φορές σύμφωνα με την ένταση και το χρόνο UV που καθορίζεται από τη διαδικασία σφράγισης για να δοκιμάσετε τις αλλαγές της φωτοηλεκτρικής απόδοσης πριν και μετά η ακτινοβολία.
B. Κριτήρια κρίσης: Μετά την ακτινοβολία UV, η τιμή Voff αυξάνεται εντός 0,1 V (ο υγρός κρύσταλλος χαμηλής τάσης είναι εντός 0,15 V), η τιμή ρεύματος αλλάζει εντός 2 φορές και η αντίθεση δεν μειώνεται σημαντικά σύμφωνα με τα κριτήρια.
αξιοπιστία:
Α. Μέθοδος δοκιμής: Δοκιμάστε τον υγρό κρύσταλλο που πρόκειται να δοκιμαστεί ως προϊόν και ελέγξτε την απόδοση αξιοπιστίας του.
B. Κριτήρια κρίσης: Οι μεταβολές της φωτοηλεκτρικής απόδοσης μετά τη δοκιμή αξιοπιστίας είναι εντός του εύρους των απαιτήσεων του προϊόντος.
